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更新時間(jiān):2025-12-16
磨粉(fěn)激光粒度儀供(gong)應廠家
LAP-DW2000激光粒(li)度儀廣泛應用(yong)于水泥、陶瓷、藥(yào)品、乳液、塗料💃、染(rǎn)料、顔🛀🏻料、填料、化(hua)工産品、催化劑(jì)、鑽井泥漿、磨料(liao)、潤滑劑🌂、泥砂✏️、粉(fen)塵✌️、細胞、細菌、食(shí)品、添加劑、農藥(yào)、石墨、感光材料(liao)💰、燃料、墨☎️汁、金屬(shu)與非金屬粉末(mo)🧑🏽🤝🧑🏻、碳酸鈣、高嶺土(tu)、水煤漿、鋁銀漿(jiāng)及其他粉狀物(wu)料。
磨粉激光粒(li)度儀供應廠家(jiā)
磨粉按照(zhao)研磨粉顆粒的(de)尺寸大小來區(qu)分的,一般被分(fen)爲磨粒、磨粉、微(wēi)粉和精粉四種(zhong)。粉體樣品中不(bu)📞同粒徑顆粒占(zhàn)🚶♀️顆粒總量的百(bai)分數。有區間分(fen)布和累計分布(bu)兩種😘形式。區間(jiān)分布又稱爲微(wei)分分布或頻率(lǜ)分布,它表示一(yi)系列粒徑區間(jian)中顆🍉粒的百分(fen)含量。累計分📐布(bu)也叫積分分布(bu),它表示㊙️小于或(huo)大于🐅某粒徑顆(kē)粒的百分含量(liàng)。磨粉激光粒度(du)儀是一款用于(yú)檢測研磨粉顆(kē)粒粒徑及粒徑(jing)分布的精密儀(yi)器,該儀器具有(you)測試速度快、測(ce)試範圍寬、重複(fu)性和真實性好(hao)、操作簡便等優(you)點。
磨粉激(ji)光粒度儀供應(ying)廠家
磨粉(fěn)激光粒度儀适(shi)用範圍:
LAP-DW2000激(ji)光粒度儀廣泛(fàn)應用于水泥、陶(táo)瓷、藥品、乳液、塗(tú)料、染🥰料、顔🈚料、填(tián)料、化工産品、催(cui)化劑、鑽井泥漿(jiang)、磨料、潤🏃🏻♂️滑劑、泥(ní)砂、粉塵、細胞、細(xi)菌、食品、添加劑(ji)、農藥、石墨、感光(guāng)材料、燃料、墨汁(zhī)、金屬與非金屬(shu)粉末、碳酸鈣、高(gao)嶺土、水煤漿、鋁(lü)銀漿及其他粉(fen)狀🔆物料。
LAP-DW2000幹(gan)濕一體激光粒(lì)徑檢測儀主要(yào)性能特點:
*的光路設計:LAP-DW2000激光粒度儀(yí)采用會聚光傅(fu)立葉變換測試(shi)技術,保證在💰較(jiao)短的焦距獲得(de)大量程,有效提(ti)高儀器的分辨(biàn)能📧力;*的高密度(du)探測單元,讓LAP-DW2000擁有了*的小(xiǎo)顆粒測試能力(li),高密度探測單(dan)元的使用讓LAP-DW2000具有*的全量(liang)程無縫測試能(néng)力。
幹、濕一(yi)鍵切換:幹(gan)濕切換将由儀(yí)器自動完成,全(quan)部過程10S内(nei)完成。
主探(tan)測器Z向自(zì)動移動:幹(gan)濕切換後因光(guāng)學玻璃的介入(rù)會導緻會聚光(guāng)焦距變化,LAP-DW2000激光粒度儀會(huì)根據幹、濕法的(de)不同自動調整(zheng)主探測器,使主(zhu)探測器始終在(zài)焦平面上(實現(xian)光路三維自動(dong)💋校對)。
防塵(chen)、防震設計:儀器整體進行(hang)了密封設計,大(da)幅提高了内部(bù)元器件📧使用壽(shòu)命。*的懸浮式結(jié)構能有效避免(miǎn)外界震動對儀(yi)🙇♀️器的影響🔅,使測(cè)試結果更穩定(dìng)可靠。
強防(fang)腐設計(選配):根據客戶實(shí)際需求可以配(pèi)備耐酸、耐堿、耐(nài)油(含一切溶劑(jì)⭐油)、耐有機溶劑(ji)。
進口氦-氖激光器:LAP-DW2000激光粒度儀(yi)采用了高穩定(ding)、長壽命的進口(kou)氦-氖激光(guang)器,優良的單色(sè)性及穩定性讓(rang)LAP-DW2000擁有了*的(de)測試重複性(标(biāo)配爲國産)。
光路自動校對(dui):自動對焦(jiao)系統,儀器可自(zì)動校對光路。
*微量循環系(xi)統:整個分(fèn)散循環系統進(jin)行了優化設計(ji),分散介質大于(yu)150毫升即可(ke)循環測試,真正(zhèng)達到了微量循(xún)環測試;優🌐化💔的(de)設☔計保✉️證排水(shui)後無廢液殘留(liu),保證了下一次(cì)測試結果的準(zhun)确性。
超寬(kuān)量程:LAP-DW2000激光(guāng)粒度儀量程達(dá)到了0.1μm~2000μm。
免排氣泡(pào)設計:全新(xīn)的設計使整個(gè)測試過程不會(huì)有氣泡進入測(ce)試樣品窗,避😘免(miǎn)了氣泡影響。
樣品無殘留(liu)設計:儀器(qi)管道及排水結(jie)構進行了優化(huà)設計,儀器管道(dào)、循環泵内無積(jī)液殘留,避免對(duì)下一次測試數(shu)據的影響;幹法(fa)測試❤️同樣進行(hang)🚩了無殘留設計(ji)。
幹法計算(suan)機遠程控制喂(wei)料:LAP-DW2000幹法測(ce)試時測試人員(yuan)可通過電腦遠(yuan)端控制喂料💚速(sù)✌️度,大大減少了(le)測試人員的勞(láo)動強度。
樣(yàng)品窗快換裝置(zhi):全新設計(jì)的樣品窗快換(huàn)裝置,使樣品窗(chuāng)更換更方👨❤️👨便快(kuài)捷。
幹濕一(yī)體激光粒徑檢(jian)測儀*的濕法循(xún)環分散系統,保(bao)證顆粒💃保證測(cè)試過程中無顆(ke)粒沉積現象,測(ce)試🚶♀️完畢後無廢(fei)液積存設計,保(bǎo)證了下一次測(ce)試精度,使測試(shì)結果更真實可(kě)✍️靠;幹法分散采(cai)用力了直線噴(pēn)射分散設計,樣(yang)品經過高壓氣(qi)體分散後垂直(zhí)向後方飛行,避(bi)免了待測小🌈顆(kē)粒的二次團簇(cu),同時采取了管(guǎn)道無殘留設計(jì),保證了測試不(bu)同樣品的準确(que)性。*的光路自動(dong)校對系統、幹濕(shi)一🥵鍵切換系統(tǒng)、幹法電腦遠端(duan)控制喂料系統(tong)等精心設計彰(zhāng)顯出LAP-DW2000*優勢(shi)。
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